仪器设备网（17net.com）欢迎您！

| 登录 注册
网站首页-资讯-专题- 微头条-话题-产品库- 品牌库-搜索-供应商- 展会-招标-采购- 社区-知识-技术-资料库-直播- 视频-课程

产品中心

当前位置：仪器设备网>产品中心> 光学测量仪器>光学测量仪>反射率测试仪>膜厚测试仪

收藏

膜厚测试仪
品牌致东光电科技（上海）有限公司
型号暂无
货号
状态在售
价格区间

暂无

在线留言 在线客服
致东光电科技（上海）有限公司
致东光电科技（上海）有限公司自2006年成立至今，秉着以客户为导向的企业经营理念，由专业的测试仪器代...[详细]
联系电话 各地经销商 官方网站 微信公众号
其他型号

    同类型产品

    同品牌产品

    膜厚测试仪技术参数
    品牌 致东光电科技（上海）有限公司 型号 暂无
    膜厚测试仪产品简介
    膜厚测试仪详细介绍

    针对PI、Thin-Film、Semicon、Solar Cell及TFT-LCD的客制化应用机型

    量测时间1-3s，精确度高

    测试精度：0.1nm

    测试厚度范围：1nm-100um

    量测膜厚（N.K）值 . 穿透率（T%）.反射率（R%）


    您可能感兴趣的产品

    在线留言

    换一张？
    取消

    联系我们

    400-822-6768 （周一至周五 09:00 ~ 18:00）

    服务咨询：932545765

    采购服务：2508277101

    展会合作：784540580

    综合服务：11694366

    关注我们

    • 关注微信公众号

    • 17net手机版

    沪公网安备 31011502008050号 沪公网安备 31011502008050号| ICP备案号：沪ICP备16012899| 互联网药品信息服务资格证书| 广播电视节目经营许可证| 营业执照证书
    Copyright 2022 17net.com    All Rights Reserved , 未经书面授权 , 页面内容不得以任何形式进行复制