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EXPLORER 多功能X射线衍射仪技术参数
品牌 | 捷尔纳 | 型号 | EXPLORER |
EXPLORER 多功能X射线衍射仪详细介绍
仪器简介 EXPLORER 在几乎所有的分析领域都有着出色的性能,例如可以测量混合物质的相态;可以检测微观的结构性质,例如薄膜或块状样品中的残应力和晶体取向等。其模块化设计,更是为仪器提供了广阔的升级空间,通过升级仪器可以满足新的分析需求。 主要特点
■ 直接传动高精度转矩马达与优势的光学编码器相结合,确保了仪器的传动速度和精度;
■ 全部组件可以拆分为7个模块,同时可以在5个独立自由度上检测样品,适用于全部的粉末、薄膜和块状样品;
■ 可以进行常规的晶相识别和定量,可以分析晶体尺寸、晶格应变及结晶度的计算;
■ 可以定量分析残余奥氏体、多晶物筛查、晶体结构分析、残余应力分析、薄膜分析、深度剖析、相变纹理和优先取向、纳米粒子分析;
■ 光学系统可以在Bragg-Brentano 聚焦和Johansson 或抛面镜单色器自由切换;
■ 高分辨的反射技术,让检测厚度精确至1-500nm,几何平行光束采用了小反射角和薄膜附件,从而可以进行薄膜或层次分析;
■ 将抛面镜单色器与晶体开槽技术有机结合,并安装在入射光束上,可以获得高强度、低散射适合高分辨率测量的平行单色光;
■ 强大,简便的操作软件实测检测工作更加简单,软件同时具有许多先进的功能,可以帮助用户对复杂的谱图进行分析。