基于Cochois体系制造的X射线波长色散分析仪是专为测定矿石、岩石中U, Th, Mo, Au, W, Tl, As, Pb等元素而设计的

。

分析仪的操作原理是初级X射线照射待测样品，激发各化学元素发出二次X荧光，用分光晶体将荧光光束发散后，它们依次是由x射线辐射探测器记录，测定各种元素的特征X射线波长和强度，从而测定各种元素的含量。

独特的应用范围：

地质学和采矿业，测定岩石和矿石的成分及浓度

环境保护，测定土壤、沉积物和岩石中含量在10-4 %数量级的Co、Ni、Cu、Zn、Ga、Rb、Sr、Ba、Pb元素的具体含量。

岩石中的核燃料铀和钍元素含量的测定，浓度测定范围在10-4 %以上。

高辨率短波长的X射线衍射(40 eV) 　　

检测下限1.5 ppm

技术参数：