上海致东全光谱反射式膜厚测量仪_致东光电科技（上海）有限公司-仪器设备网

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上海致东全光谱反射式膜厚测量仪技术参数

品牌	上海致东	型号	SR

上海致东全光谱反射式膜厚测量仪产品特点

由椭圆仪校正
量测色度坐标
量测时间1-3s ，精确度高
国内自行研发，价格合理
量测膜厚（N.K)值 .量测穿透率（T%）.反射率（R%）
FFT for very thick layer

上海致东全光谱反射式膜厚测量仪详细介绍

上海致东全光谱反射式膜厚测量仪另有大型膜厚量测仪，针对Thin-Film Solar Cell及TFT-LCD的客制化应用机型

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