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Ekspla SFG 表面和频光谱分析系统
品牌立陶宛Ekspla
型号SFG
同类产品图像数据采集分析软件-DaVis(24件)
供应商报价

面议

所在地欧洲
北京欧兰科技发展有限公司

第2年

企业类型:国有
所在地:北京 海淀区

售全国

经营业务:
更新时间:2024-06-22 09:42:20
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最新产品

Ekspla SFG 表面和频光谱分析系统技术参数
品牌 立陶宛Ekspla 型号 SFG
Ekspla SFG 表面和频光谱分析系统详细介绍

仪器简介:

SFG系统是进行表面和接触面研究的强有力而通用的工具 

应用  
聚合物分子结构, 聚合物混合表面与深层接触面  
电化电池的固体/液体表面分子组织研究  
晶体表面催化反应的分子研究  
液体表面的分子定向研究,特别是水表面  
金属单层的自聚合现象研究  
... 还有您的个性化课题。 

SFG 和频光谱测量系统  
和频光谱测量系统 (SFG)是一个二阶非线性光学测量过程,用于在接触面产生分子振动光谱。  
SFG,一种三束光波混频过程。通过将红外光,可见光在样品上(在时间和空间)上重合产生合频信号(wSF = wIR + wVIS)  
由于其表面特异性,SFG信号只能来源于表面分子或原子. 其特点是表面分子的灵敏性和特异性  
几乎在任何可以接触光的表面都可以应用SFG这一无破坏性的光学技术。测量可以在各种环境,包括真空和大压力条件下进行。  

技术参数:

总体性能 
工作波长:2.3–10μm(4300–1000cm-1)* 
光谱分辨率:< 6 cm-1 
检波灵敏度:~10 photons/shot 
数据采集频率:10 Hz 
*) 可选择使用 16 μm (625 cm-1) 

可见光束(VIS beam): 
波长:532 nm 
线宽:< 2 cm-1 
脉冲能量:~ 1 mJ @532 nm 
脉冲持续时间:20 – 30 ps 
偏振 
线性; 可选择; 
偏振度>1:100 

红外光束(IR beam) 
调谐范围:2.3–10 μm(4300–1000 cm-1)* 
线宽:< 6 cm-1 
偏振:线性; 可选; 1:100 纯度 
脉冲能量:200-20μJ 

SFG光束: 
波长范围:432 – 505 nm (VIS 光束=532 nm)


主要特点:

性能特点: 
优良的激光源稳定性,S/N率高 
测量范围大: 625 cm-1 
光谱分辨率高于 6 cm-1 
性价比高 
完全 PC 控制波长扫描 
可升级到SHG倍频光谱测量系统 
在线分析研究 
单层分子研究 
端基定向 
表面反应与催化 
表面原子团完全定向 
表面震动的激发与缓和


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