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WGL光电轮廓仪(2007BCEIA金奖产品)技术参数
| 品牌 | 上海精科 | 型号/货号 | WGL光电轮廓仪(2007BCEIA金奖产品)/A0402009 |
WGL光电轮廓仪(2007BCEIA金奖产品)详细介绍
消费提醒
该商品仅限于实验室科学研究使用，不得用于其他用途!
| 产品概述： |
| 光电轮廓仪的应用范围很广，它主要用于测量各种精密加工零件表面的微观三维结构，如表面粗糙度；零件表面的刻线；刻槽的深度和镀层的厚度等。具体地说，如量块、光学零件表面的粗糙度；标尺、度盘的刻线深度；光栅的槽形结构；镀层厚度和镀层边界处的结构形貌；磁（光）盘、磁头表面结构测量；硅片表面粗糙度及其上图形结构测量等等。由于仪器测量精度高，重复性好，具有非接触和三维测量等特点，并采用计算机控制和快速分析、计算测量结果，本仪器适用于各级测试、计量研究单位，工矿企业计量室，精密加工车间和高等院校及科学研究单位等。 |
| 产品特点： |
| 仪器由倒置式改为正置式，更符合人们的操作习惯； 应用CMOS代替CCD，省去图象卡并提高了质量； 用低压电源代替高压电源，节省了仪器成本； 用国产的代替德国进口压电陶瓷，解决了关键部件的进口难题； 增加了自动步距和亮度校正程序，同时增加了局部放大三维立体图功能； |
| 技术参数： |
| 表面微观不平深度测量范围：130～1nm 测量的重复性：sRa≤0.5nm 测量精度：8nm 物镜倍率：40X 数值孔径：0.65 仪器视场 目视：f0.25mm 摄象：0.13×0.13mm 仪器放大倍数 目视：500X 摄象（计算机屏幕观察）：2500X 接收器测量列阵：1000×1000 象素尺寸：5.2×5.2nm |
| 更详细的资料请参见一科仪器公司网站：http://www.cdyiqi.cn 。 |
