下照式微聚焦多准型，搭载先进的EFP算法软件和微光聚集技术，配合切换准直器在检测各微小及凹凸面样品时检出限更低，仪器寿命更长，性能更稳定。

对各类镀层厚度分析的同时可对电镀液进行分析，适用于各种超大件、异形凹槽件、微小密集型多点测试或自动逐个检测大量的小部件，如线路板、引线支架、卫浴产品等

XU-100光谱测厚仪采用下照式C型腔体设计，搭配微聚焦X射线发生器和高集成垂直光路系统，以及高敏变焦测距装置对各种大小异形件都可快速、精准、无损测量。 检测各种金属镀层，检出限可达0.005um，